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      Ux-720 鍍層厚度檢測儀

      • Ux-720 鍍層厚度檢測儀

      產品詳情

      Ux-720 鍍層厚度檢測 華唯



      產品介紹:

          Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業界領先。

          采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

          Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調節設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

          X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

          Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯最新專利技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結果經得起科學驗證。

          樣品移動設計為樣品腔外部調節,多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。

          設計更科學,軟硬件配合,機電聯動,輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。

          軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

       

      產品指標:

      測厚技術:X射線熒光測厚技術

      測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

      測量下限:0.003um

      測量上限:30-50um(以材料元素判定)

      測量層數:10層

      測量用時:30-120秒

      探測器類型:Si-PIN電制冷   

      探測器分辨率:145eV

      高壓范圍:0-50Kv,50W

      X光管參數:0-50Kv,50W,側窗類;

      光管靶材:Mo靶;

      濾光片:專用3種自動切換;

      CCD觀察:260萬像素

      微移動范圍:XY15mm

      輸入電壓:AC220V,50/60Hz

      測試環境:非真空條件

      數據通訊:USB2.0模式

      準直器:?1mm,?2mm,?4mm

      軟件方法:FlexFP-Mult

      工作區:開放工作區 自定義

      樣品腔:330×360×100mm

       

      標準配件

      樣品固定支架1支

      窗口支撐薄膜:100張

      保險管:3支

      計算機主機:品牌+雙核

      顯示屏:19吋液晶

      打印機:噴墨打印機

       

      可選配件

      可升級為SDD探測器

          可以實現全自動一鍵操作功能,準直器自動切換,濾光片自動切換,開蓋隨意自動停,樣品測試照片自動拍照、自動保存,測試報告自動彈出,供應商信息自動篩選和保存 

      點擊數:2885 錄入時間:2017-12-27 11:07:45【打印此頁】【返回

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